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1980 2026

1067件の結果を表示

10 時間前

微分干涉对比显微镜

AXIOTRON8*8/AL100

計測・検査

ZEISS

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

微分干涉对比显微镜

AXIOTRON8*8/AL100

計測・検査

ZEISS

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

薄层电阻测量仪(新)

AW-gage200

計測・検査

ALWIN

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

薄层电阻测量仪(新)

AW-gage200

計測・検査

ALWIN

所在地:国内

Year: --

価格はお問い合わせ

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10 時間前

微分干涉对比显微镜

Auto LH

計測・検査

Olympus

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

微分干涉对比显微镜

Auto L

計測・検査

Olympus

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

微分干涉对比显微镜

Auto L

計測・検査

Olympus

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

检漏仪

ASM182TD+

計測・検査

Adixen

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

叠加测量系统

Archer

計測・検査

KLA

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

表面分析仪

CS10

計測・検査

KLA

所在地:国内

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10 時間前

扫描电子显微镜

SU-8010

計測・検査

HITACHI

所在地:

Year: 2017

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10 時間前

表面缺陷检测系统

8520

計測・検査

KLA

所在地:

Year: 2022

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10 時間前

膜厚仪

4150

計測・検査

Nanometrics

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

晶圆探测仪

4090

計測・検査

Electroglas

所在地:国内

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10 時間前

膜厚仪

3000

計測・検査

N&K

所在地:国内

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10 時間前

膜厚测定仪

XDVM-P

計測・検査

FISCHER

所在地:国内

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10 時間前

接触脚量测仪

FTA-1000B

計測・検査

FTA

所在地:国内

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10 時間前

台式检漏仪

947

計測・検査

Varian

所在地:国内

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