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1980 2026

1067件の結果を表示

10 時間前

膜厚测量机

Pegasus 8060

計測・検査

Sensofar

所在地:国外

Year: 2015-03-01

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10 時間前

显微镜校准器

DS-FI2

計測・検査

NIKON

所在地:国外

Year: 2017-06-30

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10 時間前

晶圆厚度测量仪

E+H MX608T

計測・検査

E+H Metrology

所在地:国外

Year: 2015-11-06

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10 時間前

数字显微镜

VHX-500

計測・検査

KEYENCE基恩士

所在地:国外

Year: 2016-02-17

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Verified
10 時間前

接触角测量仪

HO-IAD-CAM-01A

計測・検査

Holmarc

所在地:国外

Year: 2016-07-14

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Verified
10 時間前

荧光光谱仪

WDA-3650

計測・検査

RIGAKU

所在地:

Year: 2015-06-30

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10 時間前

四点探针电阻仪

CDE ResMap168

計測・検査

CDE

所在地:国外

Year: 2015-05-21

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10 時間前

晶圆检测机器

Falcon 620Plus

計測・検査

Camtek

所在地:国外

Year: 2014-12-31

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10 時間前

钨灯丝扫描电子显微镜

EVO10

計測・検査

ZEISS

所在地:国内

Year: 2020

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10 時間前

金相显微镜

NWL200

計測・検査

NIKON

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

光度计

UV3600

計測・検査

SHIMADZU

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

光度计

UV2700

計測・検査

SHIMADZU

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

气体检测设备

RC1000A

計測・検査

NGK

所在地:国外

Year: --

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10 時間前

光度计

UV2600

計測・検査

SHIMADZU

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

测量设备

ICOS6100_7.6

計測・検査

KLA

所在地:国外

Year: --

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10 時間前

测量设备

Manual

計測・検査

KLA

所在地:国外

Year: --

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10 時間前

缺陷检测设备

IVC-4000

計測・検査

KLA

所在地:国外

Year: --

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10 時間前

工业相机

IVC-2000

計測・検査

KLA

所在地:国外

Year: --

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