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1067件の結果を表示

10 時間前

电子束检测设备

HMI EP3

計測・検査

ASML

所在地:国外

Year: 2014

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10 時間前

测试仪

S-2400

計測・検査

HITACHI

所在地:国内

Year: 1991

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10 時間前

扫描电镜

S-3500N

計測・検査

HITACHI

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

扫描电镜

S-4000

計測・検査

HITACHI

所在地:国内

Year: 1990

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10 時間前

扫描电镜

S-6000

計測・検査

HITACHI

所在地:国内

Year: 1989

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10 時間前

芯片缺陷检测系统

8720

計測・検査

KLA

所在地:国外

Year: --

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10 時間前

测试仪

SCL-10AVP

計測・検査

NAPSON

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

膜厚仪

OP2600

計測・検査

KLA

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

光强测试仪

SE5

計測・検査

ORC

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

测量仪

SFT-7100

計測・検査

KOSAKA

所在地:国内

Year: 1988

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10 時間前

测试仪

SM-350

計測・検査

NAPSON

所在地:国内

Year: 2001

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10 時間前

测试仪

SMAT200

計測・検査

ULVAC

所在地:国内

Year: 2000

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10 時間前

测试仪

SMI3050(C/W)

計測・検査

KLA

所在地:国内

Year: 2004

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10 時間前

测试仪

SMX-1000

計測・検査

HITACHI

所在地:国内

Year: 2007

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10 時間前

测试仪

SMX-160E

計測・検査

HITACHI

所在地:国内

Year: 2001

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10 時間前

扫描电子显微镜

S9220

計測・検査

HITACHI

所在地:国外

Year: --

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10 時間前

薄膜测量系统

UV1250SE

計測・検査

KLA

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10 時間前

薄膜量测系统

Aleris 8350

計測・検査

KLA

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