中古半導体装置取引プラットフォーム | semicn.com
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1980 2026

1067件の結果を表示

10 時間前

测试仪

THS-20 004

計測・検査

TEL

所在地:国内

Year: 1999

価格はお問い合わせ

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10 時間前

测试仪

TREX610T

計測・検査

TECHNOS

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

膜厚测试仪

UV-1050

計測・検査

KLA

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

显微镜

UWZ285

計測・検査

OLYMPUS

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

参数测试仪

HP4082

計測・検査

AGILENT

所在地:国外

Year: --

価格はお問い合わせ

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10 時間前

参数测试仪

HP4073A

計測・検査

AGILENT

所在地:国外

Year: 2001

価格はお問い合わせ

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10 時間前

参数测试仪

HP4072B

計測・検査

AGILENT

所在地:国外

Year: 2007

価格はお問い合わせ

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10 時間前

参数测试仪

HP4072A

計測・検査

AGILENT

所在地:国外

Year: 2001

価格はお問い合わせ

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10 時間前

测量仪

VI-1000WA-S

計測・検査

KOSAKA

所在地:国内

Year: 1999

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10 時間前

测量仪

VI-1000WA-S2

計測・検査

KOSAKA

所在地:国内

Year: 2000

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10 時間前

测量仪

VI-1500WA-S

計測・検査

KOSAKA

所在地:国内

Year: 2000

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10 時間前

检查仪

VL-M8000-LS

計測・検査

HITACHI

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

膜厚测试仪

VM-1210

計測・検査

NAPSON

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

膜厚测试仪

VM-2010

計測・検査

NAPSON

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

测试仪

VM-2210

計測・検査

NAPSON

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

显微镜

VMR-3020

計測・検査

OLYMPUS

所在地:国内

Year: 2004

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10 時間前

电阻测试仪

VR-120/08S

計測・検査

NAPSON

所在地:国内

Year: --

価格はお問い合わせ

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10 時間前

电阻测试仪

VR-70

計測・検査

NAPSON

所在地:国内

Year: 1997

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