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1067건의 결과 표시

10 시간 전

分析设备

HPS-376KT

측정·검사

Hyer

위치:国外

Year: 2007

가격 문의

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10 시간 전

温度测试设备

T2500SEA

측정·검사

Thermonics

위치:国外

Year: --

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10 시간 전

温度测试设备

T2500SE

측정·검사

Thermonics

위치:国外

Year: --

가격 문의

Verified
10 시간 전

反应室真空压力校正仪

IB-420

측정·검사

LUCAS LABS

위치:国内

Year: --

가격 문의

Verified
10 시간 전

反应室真空压力校正仪

IB-420

측정·검사

LUCAS LABS

위치:国内

Year: --

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Verified
10 시간 전

光学检测仪

MV-8VDH

측정·검사

Mirtec

위치:国外

Year: 2013

가격 문의

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10 시간 전

集成电路参数分析仪

TS80

측정·검사

LTX

위치:国内

Year: --

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10 시간 전

集成电路参数分析仪

TS80

측정·검사

LTX

위치:国内

Year: --

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10 시간 전

集成电路工艺制造用测试仪

PE3000

측정·검사

LTX

위치:国内

Year: --

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10 시간 전

膜厚测试仪

ALPHA Step 200

측정·검사

KLA

위치:国内

Year: --

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10 시간 전

扫描电子显微镜

S-5500

측정·검사

HITACHI

위치:国外

Year: --

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10 시간 전

显微镜

MX50

측정·검사

OLYMPUS

위치:国内

Year: --

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10 시간 전

缺陷检测机

CRS-1010S

측정·검사

KLA

위치:国内

Year: --

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10 시간 전

缺陷检测机

CRS-1010S

측정·검사

KLA

위치:国内

Year: --

가격 문의

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10 시간 전

缺陷检测机

CRS-1010S

측정·검사

KLA

위치:国内

Year: --

가격 문의

Verified
10 시간 전

缺陷检测机

CRS-1010S

측정·검사

KLA

위치:国内

Year: --

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10 시간 전

晶片制程缺陷检测机

2110

측정·검사

KLA

위치:国内

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10 시간 전

膜厚测量仪

VM-1210

측정·검사

SCREEN

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