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薄膜量测
측정·검사
위치:国外
Year: 2006
가격 문의
超分辨率显微镜
Year: --
晶圆检测设备
Year: 2008
测试仪
Year: 2001
Year: 2005
外延厚度量测
위치:国内
扫描电子显微镜
Year: 2003
高倍显微镜
透射电子显微镜
缺陷数据分析处理仪
阻值测试仪
Year: 1994
Year: 1993
Year: 1995