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1067건의 결과 표시

10 시간 전

晶圆检测系统

SP2

측정·검사

KLA

위치:国内

Year: 2001

가격 문의

Verified
10 시간 전

晶圆检测系统

SP1-TBI

측정·검사

KLA

위치:国外

Year: 2007

가격 문의

Verified
10 시간 전

芯片缺陷检测系统

8720

측정·검사

KLA

위치:国内

Year: 2007

가격 문의

Verified
10 시간 전

晶圆检测

OPTISTATION-3200

측정·검사

NIKON

위치:国外

Year: 2005

가격 문의

Verified
10 시간 전

扫描电子显微镜

SU8020

측정·검사

HITACHI

위치:

Year: 2011

가격 문의

Verified
10 시간 전

扫描电子显微镜

S-8820

측정·검사

HITACHI

위치:国内

Year: --

가격 문의

Verified
10 시간 전

扫描电子显微镜

S-8840

측정·검사

HITACHI

위치:国内

Year: 1999

가격 문의

Verified
10 시간 전

扫描电子显微镜

S-3400N

측정·검사

HITACHI

위치:国外

Year: --

가격 문의

Verified
10 시간 전

晶圆检测系统

SFS-6200

측정·검사

KLA

위치:国外

Year: 1995

가격 문의

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10 시간 전

表面晶圆检测系统

8620

측정·검사

KLA

위치:国外

Year: --

가격 문의

Verified
10 시간 전

扫描电子显微镜

S-4800Ⅱ

측정·검사

HITACHI

위치:国外

Year: 2005

가격 문의

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10 시간 전

芯片缺陷检测系统

8720

측정·검사

KLA

위치:国外

Year: 2017

가격 문의

Verified
10 시간 전

晶圆检测系统

SFS-6420

측정·검사

KLA

위치:国外

Year: 2007

가격 문의

Verified
10 시간 전

表面分析仪

CS10R

측정·검사

KLA

위치:国外

Year: --

가격 문의

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10 시간 전

扫描电子显微镜

RS-5500

측정·검사

HITACHI

위치:国内

Year: 2005

가격 문의

Verified
10 시간 전

扫描电子显微镜

S-8840

측정·검사

HITACHI

위치:国内

Year: 1999

가격 문의

Verified
10 시간 전

扫描电子显微镜

S-9260

측정·검사

HITACHI

위치:国外

Year: 2009

가격 문의

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10 시간 전

扫描电子显微镜

S-5000

측정·검사

HITACHI

위치:国外

Year: 1999

가격 문의

Verified