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显示 1067 条结果

10 小时前

电子密度计

CAERUS MDS300

量测检测

Manufacturing

位置:国外

Year: 2010

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10 小时前

自动光学检测仪

VN-8000

量测检测

PROFUSION

位置:国内

Year: --

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10 小时前

晶圆检测系统

SFS-6420

量测检测

KLA

位置:国内

Year: 1995

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10 小时前

集成电路工艺制造用测试仪

PE3000/4

量测检测

POLICY ELECTRONICS

位置:国内

Year: --

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10 小时前

投影设备

ZT-LP1000

量测检测

ZILIX

位置:国外

Year: 2005

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10 小时前

集成电路制造用测试仪

PE3000/4

量测检测

POLICY ELECTRONICS

位置:国内

Year: --

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10 小时前

封装检测设备

BGA VISION INSPECTION SYSTEM

量测检测

HANMI

位置:国外

Year: 2005

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10 小时前

测定装备膜厚仪(新)

WT-2500

量测检测

Semilab

位置:国内

Year: --

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10 小时前

测定装备膜厚仪(新)

WT-2500

量测检测

Semilab

位置:国内

Year: --

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10 小时前

检测及计量设备

NSX115

量测检测

Rudolph

位置:国外

Year: 2009

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10 小时前

检测设备

DT-WDB-2050A

量测检测

RBN

位置:国外

Year: 2007

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10 小时前

光学轮廓仪

NT9800

量测检测

VEECO

位置:国外

Year: 2010

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10 小时前

影像测量系统

VMZ-R6555

量测检测

NIKON

位置:国外

Year: 2014

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10 小时前

焊接强度测试设备

4800

量测检测

DAGE

位置:国外

Year: 2016

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10 小时前

激光标记设备

LMC3200G

量测检测

EO Technics

位置:国外

Year: 2011

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10 小时前

薄膜应力测量仪

FLX-2320

量测检测

TOHO

位置:国内

Year: 1997

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10 小时前

光谱椭偏仪

SPECTRAFX 100

量测检测

KLA

位置:国外

Year: 2006

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10 小时前

微分干涉对比显微镜

AL100+MX61

量测检测

Olympus

位置:国内

Year: --

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