全部分类
清洗设备 氧化扩散 光刻显影 刻蚀 薄膜沉积 离子注入 CMP设备 量测检测 晶圆测试 晶圆减薄切割 键合贴装 封装后处理 晶圆传输系统 真空及废气处理 流体供给
Language
中文 繁體中文 English 日本語 한국어

显示 1067 条结果

10 小时前

晶圆检测系统

SP2

量测检测

KLA

位置:国内

Year: 2001

联系询价

Verified
10 小时前

晶圆检测系统

SP1-TBI

量测检测

KLA

位置:国外

Year: 2007

联系询价

Verified
10 小时前

芯片缺陷检测系统

8720

量测检测

KLA

位置:国内

Year: 2007

联系询价

Verified
10 小时前

晶圆检测

OPTISTATION-3200

量测检测

NIKON

位置:国外

Year: 2005

联系询价

Verified
10 小时前

扫描电子显微镜

SU8020

量测检测

HITACHI

位置:

Year: 2011

联系询价

Verified
10 小时前

扫描电子显微镜

S-8820

量测检测

HITACHI

位置:国内

Year: --

联系询价

Verified
10 小时前

扫描电子显微镜

S-8840

量测检测

HITACHI

位置:国内

Year: 1999

联系询价

Verified
10 小时前

扫描电子显微镜

S-3400N

量测检测

HITACHI

位置:国外

Year: --

联系询价

Verified
10 小时前

晶圆检测系统

SFS-6200

量测检测

KLA

位置:国外

Year: 1995

联系询价

Verified
10 小时前

表面晶圆检测系统

8620

量测检测

KLA

位置:国外

Year: --

联系询价

Verified
10 小时前

扫描电子显微镜

S-4800Ⅱ

量测检测

HITACHI

位置:国外

Year: 2005

联系询价

Verified
10 小时前

芯片缺陷检测系统

8720

量测检测

KLA

位置:国外

Year: 2017

联系询价

Verified
10 小时前

晶圆检测系统

SFS-6420

量测检测

KLA

位置:国外

Year: 2007

联系询价

Verified
10 小时前

表面分析仪

CS10R

量测检测

KLA

位置:国外

Year: --

联系询价

Verified
10 小时前

扫描电子显微镜

RS-5500

量测检测

HITACHI

位置:国内

Year: 2005

联系询价

Verified
10 小时前

扫描电子显微镜

S-8840

量测检测

HITACHI

位置:国内

Year: 1999

联系询价

Verified
10 小时前

扫描电子显微镜

S-9260

量测检测

HITACHI

位置:国外

Year: 2009

联系询价

Verified
10 小时前

扫描电子显微镜

S-5000

量测检测

HITACHI

位置:国外

Year: 1999

联系询价

Verified