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10 小时前

探针台

P-12XLn+

晶圆测试

TEL

位置:国外

Year: 2006

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10 小时前

自动化测试设备

Sapphire

晶圆测试

LTX CREDENCE

位置:国外

Year: 2006

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10 小时前

自动测试设备

T2500IX/ION/E

晶圆测试

Thermonix

位置:国外

Year: 2003

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10 小时前

存储器专用量产测试设备

MS348001

晶圆测试

MOSAID

位置:国外

Year: 2007

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10 小时前

混合信号量产ATE测试机

D10

晶圆测试

LTX CREDENCE

位置:国外

Year: 2007

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10 小时前

探针台

Precio octo

晶圆测试

TEL

位置:国外

Year: 2017

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10 小时前

老化测试设备

WRP64

晶圆测试

Micro Control

位置:国外

Year: --

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10 小时前

老化测试设备

Abes IV

晶圆测试

Micro Control

位置:国外

Year: --

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10 小时前

自动测试设备

MS4205

晶圆测试

MOSAID

位置:国外

Year: --

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10 小时前

自动测试设备

7002

晶圆测试

Micro Lithography

位置:国外

Year: 1995

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10 小时前

自动测试设备

XTS-FT

晶圆测试

IMS

位置:国外

Year: 1998

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10 小时前

探针台

PT‑306

晶圆测试

SIDEA

位置:国内

Year: --

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10 小时前

自动测试设备

WRP256

晶圆测试

Micro Control

位置:国外

Year: 1999

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10 小时前

自动测试设备

Abes Memory Test Tool

晶圆测试

Micro Control

位置:国外

Year: 1999

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10 小时前

探针台

PT-301

晶圆测试

SIDEA

位置:国内

Year: --

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10 小时前

筛选

Abes Memory PreScreener

晶圆测试

Micro Control

位置:国外

Year: 2000

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10 小时前

老化测试设备

ABES-V

晶圆测试

MCC

位置:国外

Year: 2001

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10 小时前

自动测试设备

PS4L FA-12

晶圆测试

SemiProbe

位置:国外

Year: 2012

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