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1067件の結果を表示

10 時間前

晶圆缺陷检测

Leica INS3300

計測・検査

KLA

所在地:国内

Year: 2015

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10 時間前

薄膜测量系统

Zi-1000N

計測・検査

ULVAC

所在地:国内

Year: 2001

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10 時間前

扫描电子显微镜

S-7840

計測・検査

HITACHI

所在地:国外

Year: 2000

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10 時間前

应力测试仪

FLX-2320-S

計測・検査

TOHO

所在地:

Year: 2007

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10 時間前

扫描电镜

SU-8010

計測・検査

HITACHI

所在地:国内

Year: 2013

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10 時間前

表面分析仪

CS20R

計測・検査

KLA

所在地:国内

Year: 2010

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10 時間前

缺陷检测

SF27

計測・検査

KLA

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

缺陷检测设备

WA-200

計測・検査

HITACHI

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Year: --

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10 時間前

显微镜

MX50/AL100

計測・検査

OLYMPUS

所在地:国外

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10 時間前

缺陷检测设备

2401

計測・検査

KLA

所在地:国外

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10 時間前

测试仪

PA200HS

計測・検査

AGILENT

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10 時間前

表面缺陷检测系统

8520

計測・検査

KLA

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Year: 2022

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10 時間前

缺陷检测工具

UVISION4

計測・検査

AMAT

所在地:国外

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10 時間前

缺陷复检工具

MIS-200

計測・検査

DNS

所在地:国外

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10 時間前

缺陷复检工具

MIS-200

計測・検査

DNS

所在地:国外

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10 時間前

缺陷复检工具

MIS-200

計測・検査

DNS

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10 時間前

检测设备

HE LEAK_ASM-12

計測・検査

NAGASE SANGYO

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10 時間前

测量设备

DIGITAL MULTI METER

計測・検査

Hewlett-Packard

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