二手半導體設備交易平台 | semicn.com
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顯示 1067 筆結果

10 小時前

测试仪

TS67TH

量測檢測

YOKOGAWA

地點:国内

Year: --

聯繫詢價

Verified
10 小時前

参数分析仪

4145A

量測檢測

YOKOGAWA

地點:国内

Year: --

聯繫詢價

Verified
10 小時前

氦气检漏仪

HELIOT

量測檢測

ULVAC

地點:

Year: --

聯繫詢價

Verified
10 小時前

晶圆缺陷检测

SP3

量測檢測

KLA

地點:国外

Year: 2014

聯繫詢價

Verified
10 小時前

颗粒检测仪

SFS-4500

量測檢測

KLA

地點:国外

Year: --

聯繫詢價

Verified
10 小時前

晶圆检测系统

SFS-6200

量測檢測

KLA

地點:国内

Year: 1992

聯繫詢價

Verified
10 小時前

颗粒检测系统

SFS-6220

量測檢測

KLA

地點:国内

Year: 2001

聯繫詢價

Verified
10 小時前

缺陷测试仪

SFS-7700

量測檢測

KLA

地點:国外

Year: 1997

聯繫詢價

Verified
10 小時前

扫描电子显微镜

S-9220

量測檢測

HITACHI

地點:国外

Year: --

聯繫詢價

Verified
10 小時前

晶圆检测设备

SFS-6400

量測檢測

KLA

地點:国外

Year: 1994

聯繫詢價

Verified
10 小時前

颗粒检测系统

SFS-6220

量測檢測

KLA

地點:

Year: --

聯繫詢價

Verified
10 小時前

薄膜测量系统

RS-75

量測檢測

KLA

地點:国外

Year: --

聯繫詢價

Verified
10 小時前

侧扫声纳设备

INS3000

量測檢測

KLA

地點:国外

Year: 1999

聯繫詢價

Verified
10 小時前

薄膜测量系统

UV1280SE

量測檢測

KLA

地點:国内

Year: 2000

聯繫詢價

Verified
10 小時前

缺陷测试仪

TREX610TX

量測檢測

TECHNOS

地點:国内

Year: 2007

聯繫詢價

Verified
10 小時前

晶圆检测系统

SP1-TBI

量測檢測

KLA

地點:国外

Year: --

聯繫詢價

Verified
10 小時前

薄膜测量系统

UV-1280SE

量測檢測

KLA

地點:国外

Year: 2001

聯繫詢價

Verified
10 小時前

晶圆检测系统

SFS-6420

量測檢測

KLA

地點:国内

Year: 1995

聯繫詢價

Verified
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