二手半導體設備交易平台 | semicn.com
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顯示 1067 筆結果

10 小時前

晶圆缺陷检测

Leica INS3300

量測檢測

KLA

地點:国内

Year: 2015

聯繫詢價

Verified
10 小時前

薄膜测量系统

Zi-1000N

量測檢測

ULVAC

地點:国内

Year: 2001

聯繫詢價

Verified
10 小時前

扫描电子显微镜

S-7840

量測檢測

HITACHI

地點:国外

Year: 2000

聯繫詢價

Verified
10 小時前

应力测试仪

FLX-2320-S

量測檢測

TOHO

地點:

Year: 2007

聯繫詢價

Verified
10 小時前

扫描电镜

SU-8010

量測檢測

HITACHI

地點:国内

Year: 2013

聯繫詢價

Verified
10 小時前

表面分析仪

CS20R

量測檢測

KLA

地點:国内

Year: 2010

聯繫詢價

Verified
10 小時前

缺陷检测

SF27

量測檢測

KLA

地點:国内

Year: --

聯繫詢價

Verified
10 小時前

缺陷检测设备

WA-200

量測檢測

HITACHI

地點:国外

Year: --

聯繫詢價

Verified
10 小時前

显微镜

MX50/AL100

量測檢測

OLYMPUS

地點:国外

Year: --

聯繫詢價

Verified
10 小時前

缺陷检测设备

2401

量測檢測

KLA

地點:国外

Year: --

聯繫詢價

Verified
10 小時前

测试仪

PA200HS

量測檢測

AGILENT

地點:国外

Year: --

聯繫詢價

Verified
10 小時前

表面缺陷检测系统

8520

量測檢測

KLA

地點:

Year: 2022

聯繫詢價

Verified
10 小時前

缺陷检测工具

UVISION4

量測檢測

AMAT

地點:国外

Year: --

聯繫詢價

Verified
10 小時前

缺陷复检工具

MIS-200

量測檢測

DNS

地點:国外

Year: --

聯繫詢價

Verified
10 小時前

缺陷复检工具

MIS-200

量測檢測

DNS

地點:国外

Year: --

聯繫詢價

Verified
10 小時前

缺陷复检工具

MIS-200

量測檢測

DNS

地點:国外

Year: --

聯繫詢價

Verified
10 小時前

检测设备

HE LEAK_ASM-12

量測檢測

NAGASE SANGYO

地點:国外

Year: --

聯繫詢價

Verified
10 小時前

测量设备

DIGITAL MULTI METER

量測檢測

Hewlett-Packard

地點:国外

Year: --

聯繫詢價

Verified
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