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287件の結果を表示

10 時間前

探针台

P-12XLn+

ウェーハテスト

TEL

所在地:国外

Year: 2006

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10 時間前

自动化测试设备

Sapphire

ウェーハテスト

LTX CREDENCE

所在地:国外

Year: 2006

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10 時間前

自动测试设备

T2500IX/ION/E

ウェーハテスト

Thermonix

所在地:国外

Year: 2003

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10 時間前

存储器专用量产测试设备

MS348001

ウェーハテスト

MOSAID

所在地:国外

Year: 2007

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10 時間前

混合信号量产ATE测试机

D10

ウェーハテスト

LTX CREDENCE

所在地:国外

Year: 2007

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10 時間前

探针台

Precio octo

ウェーハテスト

TEL

所在地:国外

Year: 2017

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10 時間前

老化测试设备

WRP64

ウェーハテスト

Micro Control

所在地:国外

Year: --

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10 時間前

老化测试设备

Abes IV

ウェーハテスト

Micro Control

所在地:国外

Year: --

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10 時間前

自动测试设备

MS4205

ウェーハテスト

MOSAID

所在地:国外

Year: --

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10 時間前

自动测试设备

7002

ウェーハテスト

Micro Lithography

所在地:国外

Year: 1995

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10 時間前

自动测试设备

XTS-FT

ウェーハテスト

IMS

所在地:国外

Year: 1998

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10 時間前

探针台

PT‑306

ウェーハテスト

SIDEA

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

自动测试设备

WRP256

ウェーハテスト

Micro Control

所在地:国外

Year: 1999

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10 時間前

自动测试设备

Abes Memory Test Tool

ウェーハテスト

Micro Control

所在地:国外

Year: 1999

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10 時間前

探针台

PT-301

ウェーハテスト

SIDEA

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

筛选

Abes Memory PreScreener

ウェーハテスト

Micro Control

所在地:国外

Year: 2000

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10 時間前

老化测试设备

ABES-V

ウェーハテスト

MCC

所在地:国外

Year: 2001

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10 時間前

自动测试设备

PS4L FA-12

ウェーハテスト

SemiProbe

所在地:国外

Year: 2012

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