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顯示 287 筆結果

10 小時前

探针台

P-12XLn+

晶圓測試

TEL

地點:国外

Year: 2006

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10 小時前

自动化测试设备

Sapphire

晶圓測試

LTX CREDENCE

地點:国外

Year: 2006

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10 小時前

自动测试设备

T2500IX/ION/E

晶圓測試

Thermonix

地點:国外

Year: 2003

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10 小時前

存储器专用量产测试设备

MS348001

晶圓測試

MOSAID

地點:国外

Year: 2007

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10 小時前

混合信号量产ATE测试机

D10

晶圓測試

LTX CREDENCE

地點:国外

Year: 2007

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10 小時前

探针台

Precio octo

晶圓測試

TEL

地點:国外

Year: 2017

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10 小時前

老化测试设备

WRP64

晶圓測試

Micro Control

地點:国外

Year: --

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10 小時前

老化测试设备

Abes IV

晶圓測試

Micro Control

地點:国外

Year: --

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10 小時前

自动测试设备

MS4205

晶圓測試

MOSAID

地點:国外

Year: --

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10 小時前

自动测试设备

7002

晶圓測試

Micro Lithography

地點:国外

Year: 1995

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10 小時前

自动测试设备

XTS-FT

晶圓測試

IMS

地點:国外

Year: 1998

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10 小時前

探针台

PT‑306

晶圓測試

SIDEA

地點:国内

Year: --

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10 小時前

自动测试设备

WRP256

晶圓測試

Micro Control

地點:国外

Year: 1999

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10 小時前

自动测试设备

Abes Memory Test Tool

晶圓測試

Micro Control

地點:国外

Year: 1999

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10 小時前

探针台

PT-301

晶圓測試

SIDEA

地點:国内

Year: --

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10 小時前

筛选

Abes Memory PreScreener

晶圓測試

Micro Control

地點:国外

Year: 2000

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10 小時前

老化测试设备

ABES-V

晶圓測試

MCC

地點:国外

Year: 2001

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10 小時前

自动测试设备

PS4L FA-12

晶圓測試

SemiProbe

地點:国外

Year: 2012

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