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显示 1067 条结果

10 小时前

晶圆缺陷检测

Leica INS3300

量测检测

KLA

位置:国内

Year: 2015

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10 小时前

薄膜测量系统

Zi-1000N

量测检测

ULVAC

位置:国内

Year: 2001

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10 小时前

扫描电子显微镜

S-7840

量测检测

HITACHI

位置:国外

Year: 2000

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10 小时前

应力测试仪

FLX-2320-S

量测检测

TOHO

位置:

Year: 2007

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10 小时前

扫描电镜

SU-8010

量测检测

HITACHI

位置:国内

Year: 2013

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10 小时前

表面分析仪

CS20R

量测检测

KLA

位置:国内

Year: 2010

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10 小时前

缺陷检测

SF27

量测检测

KLA

位置:国内

Year: --

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10 小时前

缺陷检测设备

WA-200

量测检测

HITACHI

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Year: --

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10 小时前

显微镜

MX50/AL100

量测检测

OLYMPUS

位置:国外

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10 小时前

缺陷检测设备

2401

量测检测

KLA

位置:国外

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10 小时前

测试仪

PA200HS

量测检测

AGILENT

位置:国外

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10 小时前

表面缺陷检测系统

8520

量测检测

KLA

位置:

Year: 2022

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10 小时前

缺陷检测工具

UVISION4

量测检测

AMAT

位置:国外

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10 小时前

缺陷复检工具

MIS-200

量测检测

DNS

位置:国外

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10 小时前

缺陷复检工具

MIS-200

量测检测

DNS

位置:国外

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10 小时前

缺陷复检工具

MIS-200

量测检测

DNS

位置:国外

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10 小时前

检测设备

HE LEAK_ASM-12

量测检测

NAGASE SANGYO

位置:国外

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10 小时前

测量设备

DIGITAL MULTI METER

量测检测

Hewlett-Packard

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