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1980 2026

1067件の結果を表示

10 時間前

膜厚测量仪

VM-3210

計測・検査

SCREEN

所在地:

Year: --

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10 時間前

晶片制程缺陷检测机

2110

計測・検査

KLA

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

参数分析仪

4200

計測・検査

KEITHLEY

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

表面分析仪

CS10V

計測・検査

KLA

所在地:国外

Year: 2012

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10 時間前

扫描电子显微镜

CG-4000

計測・検査

HITACHI

所在地:国外

Year: 2007

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10 時間前

计量系统

Faast-330A

計測・検査

Semilab

所在地:国外

Year: 2004

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10 時間前

测量设备

FAaST 230

計測・検査

Semilab

所在地:国外

Year: 2005

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10 時間前

液体微粒检仪

KE40

計測・検査

RION

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

缺陷检测设备

OCDM 300MM

計測・検査

NIKON

所在地:国外

Year: 2010

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10 時間前

晶圆检测设备

AIT UV

計測・検査

KLA

所在地:国外

Year: 2003

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10 時間前

光谱分析仪

SOECTRAAA800

計測・検査

KarlSuss

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

晶圆检测机台

WI-2280

計測・検査

KLA

所在地:国外

Year: --

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10 時間前

晶圆检测系统

Puma-9000

計測・検査

KLA

所在地:国外

Year: 2005

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10 時間前

晶圆检测系统

Puma-9130

計測・検査

KLA

所在地:

Year: 2005

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10 時間前

硅片四点探针量测仪

PA2000

計測・検査

KarlSuss

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

电子束缺陷再检测

EDR-5210

計測・検査

KLA

所在地:国外

Year: 2010

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10 時間前

表面轮廓测量系统

HRP-340

計測・検査

KLA

所在地:国外

Year: 2004

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10 時間前

显微镜及其专用防震机台

11500085

計測・検査

KarlSuss

所在地:国内

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