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1980 2026

1067件の結果を表示

10 時間前

扫描电子显微镜

S-4700

計測・検査

HITACHI

所在地:国内

Year: 2004

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10 時間前

分析仪

KS-7000

計測・検査

DNS

所在地:国内

Year: 2012.5

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10 時間前

扫描电镜

SU-9000

計測・検査

HITACHI

所在地:国外

Year: --

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10 時間前

晶圆检测系统

SP1-TBI

計測・検査

KLA

所在地:国外

Year: --

価格はお問い合わせ

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10 時間前

电子束检测设备

eScan310

計測・検査

HMI

所在地:国外

Year: 2008.12

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10 時間前

半导体量测设备

RVX1000

計測・検査

REVERA

所在地:国外

Year: 2007.7

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10 時間前

晶圆检测设备

IS3000

計測・検査

HITACHI

所在地:国外

Year: 2006.7

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10 時間前

晶圆缺陷检测

Leica INS3300

計測・検査

KLA

所在地:国外

Year: 2005.2

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10 時間前

晶圆缺陷检测

Leica INS3300

計測・検査

KLA

所在地:国外

Year: 2002.8

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10 時間前

蒸汽质量测试设备

3000steam

計測・検査

Mattson

所在地:国外

Year: 2004.4

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10 時間前

离子色谱仪

DX600

計測・検査

Thermo Fisher

所在地:国外

Year: 2002.2

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10 時間前

薄膜测量系统

UV-1050

計測・検査

KLA

所在地:国外

Year: 1996.5

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10 時間前

晶圆检测系统

SP2

計測・検査

KLA

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

扫描电子显微镜

S-8840

計測・検査

HITACHI

所在地:国内

Year: 1999

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10 時間前

扫描电子显微镜

S-8820

計測・検査

HITACHI

所在地:国外

Year: --

価格はお問い合わせ

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10 時間前

上料机构

SP3

計測・検査

KLA

所在地:国外

Year: 2012.3

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10 時間前

颗粒检测系统

SFS-6220

計測・検査

KLA

所在地:国外

Year: 1999

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10 時間前

晶圆翘曲度测量仪

FLX-5400

計測・検査

KLA

所在地:

Year: 2015-02-01

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