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1067건의 결과 표시

10 시간 전

晶圆缺陷检测

Leica INS3300

측정·검사

KLA

위치:国内

Year: 2015

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10 시간 전

薄膜测量系统

Zi-1000N

측정·검사

ULVAC

위치:国内

Year: 2001

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10 시간 전

扫描电子显微镜

S-7840

측정·검사

HITACHI

위치:国外

Year: 2000

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10 시간 전

应力测试仪

FLX-2320-S

측정·검사

TOHO

위치:

Year: 2007

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10 시간 전

扫描电镜

SU-8010

측정·검사

HITACHI

위치:国内

Year: 2013

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10 시간 전

表面分析仪

CS20R

측정·검사

KLA

위치:国内

Year: 2010

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10 시간 전

缺陷检测

SF27

측정·검사

KLA

위치:国内

Year: --

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10 시간 전

缺陷检测设备

WA-200

측정·검사

HITACHI

위치:国外

Year: --

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10 시간 전

显微镜

MX50/AL100

측정·검사

OLYMPUS

위치:国外

Year: --

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10 시간 전

缺陷检测设备

2401

측정·검사

KLA

위치:国外

Year: --

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10 시간 전

测试仪

PA200HS

측정·검사

AGILENT

위치:国外

Year: --

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10 시간 전

表面缺陷检测系统

8520

측정·검사

KLA

위치:

Year: 2022

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10 시간 전

缺陷检测工具

UVISION4

측정·검사

AMAT

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Year: --

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10 시간 전

缺陷复检工具

MIS-200

측정·검사

DNS

위치:国外

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10 시간 전

缺陷复检工具

MIS-200

측정·검사

DNS

위치:国外

Year: --

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10 시간 전

缺陷复检工具

MIS-200

측정·검사

DNS

위치:国外

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10 시간 전

检测设备

HE LEAK_ASM-12

측정·검사

NAGASE SANGYO

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10 시간 전

测量设备

DIGITAL MULTI METER

측정·검사

Hewlett-Packard

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