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顯示 1067 筆結果

10 小時前

膜厚测量仪

VM-3210

量測檢測

SCREEN

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10 小時前

晶片制程缺陷检测机

2110

量測檢測

KLA

地點:国内

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10 小時前

参数分析仪

4200

量測檢測

KEITHLEY

地點:国内

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10 小時前

表面分析仪

CS10V

量測檢測

KLA

地點:国外

Year: 2012

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10 小時前

扫描电子显微镜

CG-4000

量測檢測

HITACHI

地點:国外

Year: 2007

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10 小時前

计量系统

Faast-330A

量測檢測

Semilab

地點:国外

Year: 2004

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10 小時前

测量设备

FAaST 230

量測檢測

Semilab

地點:国外

Year: 2005

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10 小時前

液体微粒检仪

KE40

量測檢測

RION

地點:国内

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10 小時前

缺陷检测设备

OCDM 300MM

量測檢測

NIKON

地點:国外

Year: 2010

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10 小時前

晶圆检测设备

AIT UV

量測檢測

KLA

地點:国外

Year: 2003

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10 小時前

光谱分析仪

SOECTRAAA800

量測檢測

KarlSuss

地點:国内

Year: --

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10 小時前

晶圆检测机台

WI-2280

量測檢測

KLA

地點:国外

Year: --

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10 小時前

晶圆检测系统

Puma-9000

量測檢測

KLA

地點:国外

Year: 2005

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10 小時前

晶圆检测系统

Puma-9130

量測檢測

KLA

地點:

Year: 2005

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10 小時前

硅片四点探针量测仪

PA2000

量測檢測

KarlSuss

地點:国内

Year: --

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10 小時前

电子束缺陷再检测

EDR-5210

量測檢測

KLA

地點:国外

Year: 2010

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10 小時前

表面轮廓测量系统

HRP-340

量測檢測

KLA

地點:国外

Year: 2004

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10 小時前

显微镜及其专用防震机台

11500085

量測檢測

KarlSuss

地點:国内

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