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显示 1067 条结果

10 小时前

膜厚测量仪

VM-3210

量测检测

SCREEN

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10 小时前

晶片制程缺陷检测机

2110

量测检测

KLA

位置:国内

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10 小时前

参数分析仪

4200

量测检测

KEITHLEY

位置:国内

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10 小时前

表面分析仪

CS10V

量测检测

KLA

位置:国外

Year: 2012

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10 小时前

扫描电子显微镜

CG-4000

量测检测

HITACHI

位置:国外

Year: 2007

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10 小时前

计量系统

Faast-330A

量测检测

Semilab

位置:国外

Year: 2004

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10 小时前

测量设备

FAaST 230

量测检测

Semilab

位置:国外

Year: 2005

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10 小时前

液体微粒检仪

KE40

量测检测

RION

位置:国内

Year: --

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10 小时前

缺陷检测设备

OCDM 300MM

量测检测

NIKON

位置:国外

Year: 2010

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10 小时前

晶圆检测设备

AIT UV

量测检测

KLA

位置:国外

Year: 2003

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10 小时前

光谱分析仪

SOECTRAAA800

量测检测

KarlSuss

位置:国内

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10 小时前

晶圆检测机台

WI-2280

量测检测

KLA

位置:国外

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10 小时前

晶圆检测系统

Puma-9000

量测检测

KLA

位置:国外

Year: 2005

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10 小时前

晶圆检测系统

Puma-9130

量测检测

KLA

位置:

Year: 2005

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10 小时前

硅片四点探针量测仪

PA2000

量测检测

KarlSuss

位置:国内

Year: --

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10 小时前

电子束缺陷再检测

EDR-5210

量测检测

KLA

位置:国外

Year: 2010

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10 小时前

表面轮廓测量系统

HRP-340

量测检测

KLA

位置:国外

Year: 2004

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10 小时前

显微镜及其专用防震机台

11500085

量测检测

KarlSuss

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