全部分类
清洗设备 氧化扩散 光刻显影 刻蚀 薄膜沉积 离子注入 CMP设备 量测检测 晶圆测试 晶圆减薄切割 键合贴装 封装后处理 晶圆传输系统 真空及废气处理 流体供给
Language
中文 繁體中文 English 日本語 한국어

显示 1067 条结果

10 小时前

测试仪

TS67TH

量测检测

YOKOGAWA

位置:国内

Year: --

联系询价

Verified
10 小时前

参数分析仪

4145A

量测检测

YOKOGAWA

位置:国内

Year: --

联系询价

Verified
10 小时前

氦气检漏仪

HELIOT

量测检测

ULVAC

位置:

Year: --

联系询价

Verified
10 小时前

晶圆缺陷检测

SP3

量测检测

KLA

位置:国外

Year: 2014

联系询价

Verified
10 小时前

颗粒检测仪

SFS-4500

量测检测

KLA

位置:国外

Year: --

联系询价

Verified
10 小时前

晶圆检测系统

SFS-6200

量测检测

KLA

位置:国内

Year: 1992

联系询价

Verified
10 小时前

颗粒检测系统

SFS-6220

量测检测

KLA

位置:国内

Year: 2001

联系询价

Verified
10 小时前

缺陷测试仪

SFS-7700

量测检测

KLA

位置:国外

Year: 1997

联系询价

Verified
10 小时前

扫描电子显微镜

S-9220

量测检测

HITACHI

位置:国外

Year: --

联系询价

Verified
10 小时前

晶圆检测设备

SFS-6400

量测检测

KLA

位置:国外

Year: 1994

联系询价

Verified
10 小时前

颗粒检测系统

SFS-6220

量测检测

KLA

位置:

Year: --

联系询价

Verified
10 小时前

薄膜测量系统

RS-75

量测检测

KLA

位置:国外

Year: --

联系询价

Verified
10 小时前

侧扫声纳设备

INS3000

量测检测

KLA

位置:国外

Year: 1999

联系询价

Verified
10 小时前

薄膜测量系统

UV1280SE

量测检测

KLA

位置:国内

Year: 2000

联系询价

Verified
10 小时前

缺陷测试仪

TREX610TX

量测检测

TECHNOS

位置:国内

Year: 2007

联系询价

Verified
10 小时前

晶圆检测系统

SP1-TBI

量测检测

KLA

位置:国外

Year: --

联系询价

Verified
10 小时前

薄膜测量系统

UV-1280SE

量测检测

KLA

位置:国外

Year: 2001

联系询价

Verified
10 小时前

晶圆检测系统

SFS-6420

量测检测

KLA

位置:国内

Year: 1995

联系询价

Verified