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显示 1067 条结果

10 小时前

计量设备

Ex-Situ Plucker

量测检测

FEI

位置:国外

Year: 2009

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10 小时前

膜厚测试仪

SE-400adv-PV

量测检测

SENTECH

位置:国内

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10 小时前

色谱仪

2695

量测检测

Waters

位置:国外

Year: --

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10 小时前

透射电子显微镜

2040

量测检测

E.A. Fischione Instruments

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10 小时前

光谱测量仪

EP12

量测检测

SOPRA

位置:国外

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10 小时前

高精度计量设备

AXIOSPECT 301

量测检测

HSEB

位置:国外

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10 小时前

共焦显微镜

OLS3100

量测检测

OLYMPUS

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10 小时前

纳米探测系统

MP1

量测检测

Multiprobe

位置:国外

Year: 2006

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10 小时前

扫描电子显微镜

NanoSEM 3D

量测检测

AMAT

位置:国外

Year: 2002

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10 小时前

晶圆检测设备

Elymat Ⅲ

量测检测

GEMETEC

位置:国外

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10 小时前

晶圆检查系统

ES31

量测检测

KLA

位置:国外

Year: 2004

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10 小时前

测试系统

XACT-830

量测检测

Chiron

位置:国外

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10 小时前

光学显微镜

Polyvar +AL100

量测检测

Olympus

位置:国内

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10 小时前

射线检测设备

Micromex SE 160T

量测检测

Phoenix

位置:国外

Year: 2009

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10 小时前

晶圆缺陷检测系统

WV320

量测检测

Rudolph

位置:国外

Year: 2007

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10 小时前

光学显微镜

Polyvar +AL100

量测检测

Olympus

位置:国内

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10 小时前

光学显微镜

Polyvar +AL100

量测检测

Olympus

位置:国内

Year: --

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10 小时前

全自动计数粒度仪

AccuSizer APS 780

量测检测

PSS

位置:国外

Year: 2006

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