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1067件の結果を表示

10 時間前

计量设备

Ex-Situ Plucker

計測・検査

FEI

所在地:国外

Year: 2009

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10 時間前

膜厚测试仪

SE-400adv-PV

計測・検査

SENTECH

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

色谱仪

2695

計測・検査

Waters

所在地:国外

Year: --

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10 時間前

透射电子显微镜

2040

計測・検査

E.A. Fischione Instruments

所在地:国外

Year: --

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10 時間前

光谱测量仪

EP12

計測・検査

SOPRA

所在地:国外

Year: --

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10 時間前

高精度计量设备

AXIOSPECT 301

計測・検査

HSEB

所在地:国外

Year: --

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10 時間前

共焦显微镜

OLS3100

計測・検査

OLYMPUS

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

纳米探测系统

MP1

計測・検査

Multiprobe

所在地:国外

Year: 2006

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10 時間前

扫描电子显微镜

NanoSEM 3D

計測・検査

AMAT

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Year: 2002

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10 時間前

晶圆检测设备

Elymat Ⅲ

計測・検査

GEMETEC

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10 時間前

晶圆检查系统

ES31

計測・検査

KLA

所在地:国外

Year: 2004

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10 時間前

测试系统

XACT-830

計測・検査

Chiron

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10 時間前

光学显微镜

Polyvar +AL100

計測・検査

Olympus

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

射线检测设备

Micromex SE 160T

計測・検査

Phoenix

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Year: 2009

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10 時間前

晶圆缺陷检测系统

WV320

計測・検査

Rudolph

所在地:国外

Year: 2007

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10 時間前

光学显微镜

Polyvar +AL100

計測・検査

Olympus

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

光学显微镜

Polyvar +AL100

計測・検査

Olympus

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

全自动计数粒度仪

AccuSizer APS 780

計測・検査

PSS

所在地:国外

Year: 2006

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