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1067건의 결과 표시

10 시간 전

计量设备

Ex-Situ Plucker

측정·검사

FEI

위치:国外

Year: 2009

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10 시간 전

膜厚测试仪

SE-400adv-PV

측정·검사

SENTECH

위치:国内

Year: --

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10 시간 전

色谱仪

2695

측정·검사

Waters

위치:国外

Year: --

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10 시간 전

透射电子显微镜

2040

측정·검사

E.A. Fischione Instruments

위치:国外

Year: --

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10 시간 전

光谱测量仪

EP12

측정·검사

SOPRA

위치:国外

Year: --

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10 시간 전

高精度计量设备

AXIOSPECT 301

측정·검사

HSEB

위치:国外

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10 시간 전

共焦显微镜

OLS3100

측정·검사

OLYMPUS

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Year: --

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10 시간 전

纳米探测系统

MP1

측정·검사

Multiprobe

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Year: 2006

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10 시간 전

扫描电子显微镜

NanoSEM 3D

측정·검사

AMAT

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Year: 2002

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10 시간 전

晶圆检测设备

Elymat Ⅲ

측정·검사

GEMETEC

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10 시간 전

晶圆检查系统

ES31

측정·검사

KLA

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Year: 2004

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10 시간 전

测试系统

XACT-830

측정·검사

Chiron

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10 시간 전

光学显微镜

Polyvar +AL100

측정·검사

Olympus

위치:国内

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10 시간 전

射线检测设备

Micromex SE 160T

측정·검사

Phoenix

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Year: 2009

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10 시간 전

晶圆缺陷检测系统

WV320

측정·검사

Rudolph

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Year: 2007

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10 시간 전

光学显微镜

Polyvar +AL100

측정·검사

Olympus

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Year: --

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10 시간 전

光学显微镜

Polyvar +AL100

측정·검사

Olympus

위치:国内

Year: --

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10 시간 전

全自动计数粒度仪

AccuSizer APS 780

측정·검사

PSS

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Year: 2006

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